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Ihre Vorteile
- Messung in kleinsten Bauräumen (ab Ø 0,1 mm)
- Ergebnisse mit Nanometergenauigkeit
- Berührungslos und verschleißfrei
- Ideal für eine schnelle 100-Prozent-Prüfung
- Nahezu material- und oberflächenunabhängig
- Einzelpunkt- und Mehrstellenmessungen möglich
- Erzeugung von 2D-Profilen und 3D-Punktewolken
- Normgerechte Qualitätskontrolle nach DIN EN ISO
- Voll automatisierbar und integrierbar
- Elektromagnetisch verträglich (EMV)
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Systemkenndaten
FDM-1
Für höchste Genauigkeit
| Messbereich |
80 µm |
| Auflösung (typ. Standardabweichung) |
< 3 nm* |
| Durchmesser Messsonde |
≥ 50 µm |
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FDM-2
Großer Messbereich
| Messbereich |
1 mm |
| Auflösung (typ. Standardabweichung) |
< 10 nm* |
| Durchmesser Messsonde |
≥ 50 µm |
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Allgemeine Parameter
Messprinzip |
kurzkohärente Interferometrie |
Sondendurchmesser |
0,05 / 0,08 / 0,125 / 0,8 / 1,3 – 5 mm |
Messbare Materialien und Oberflächen |
Glas, Metall, Keramik, Kunststoff u.a. – transparent, spiegelnd, matt |
Innendurchmesser Prüfling |
ab 0,1 mm |
Messrichtung |
axial (0°), winklig (45° – 90°) |
Messfrequenz |
bis zu 20 kHz (abhängig vom Messobjekt) |
Mehrstellenmessung |
paralleles oder sequentielles Auslesen mehrerer Sonden möglich |
Software |
FDMControl (Steuerung) / DataViewer (Auswertung) |
Programmierschnittstellen |
API, DLL |
Systemschnittstellen (konfigurierbar) |
Trigger IN, Gate IN, Trigger OUT: TTL 5V, Ethernet, GPIO |
Stromversorgung |
230 V (AC) |
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Anwendungen